半导体红外显微镜的分辨率是多少？
半导体红外显微镜（Infrared Microscopy）结合了红外光谱和显微成像技术，广泛应用于材料科学、半导体制造和生物学等领域。其分辨率取决于红外光的波长和显微镜的设计，通常在1微米到10微米之间。具体来说，红外显微镜的分辨率受到两个主要因素的限制：首先，红外光的波长较长（通常在2.5到25微米之间），这决定了其分辨率的上限。红外光的较长波长限制了细节分辨能力，因此红外显微镜的分辨率通常低于可见光显微镜。其次，显微镜的光学系统设计、探测器类型和信号处理技术也会影响最终的分辨率。
尽管如此，半导体红外显微镜能够提供在常规可见光显微镜难以获得的深度信息，如分析半导体材料中的局部化学组成、应力分布等，因此在特定领域仍具有很高的应用价值。
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