跌落测试的标准及判定准则
跌落测试标准及判定准则1. 主要标准
ISTA 3A：模拟运输环境，根据包装重量确定跌落高度(如<20 kg对应760 mm)。
ASTM D5276：规定自由跌落测试方法，高度通常为0.3~1.5米，依据包装类型调整。
GB/T 4857.5：中国国标，按产品重量、运输条件设定跌落高度(如10 kg产品跌落800 mm)。
MIL-STD-810G(方法516.7)：**设备测试，跌落高度由产品使用场景决定(如手持设备1.2米)。
2. 测试参数
跌落高度：根据产品重量、运输方式(陆运/空运)确定。
跌落次数：通常每个面/角/棱跌落1次。
跌落角度：优先角(最脆弱位置)、棱、面顺序测试。
3. 判定准则
包装完整性：无破裂、严重变形，缓冲材料未失效。
产品功能：开机正常，性能无退化(如屏幕显示、按键响应)。
外观检查：无结构开裂、电池泄漏等安全隐患。
内部损伤：通过X光或拆解检查，确认电路板、焊接点无损坏。
4. 失效判定
严重缺陷：功能丧失、安全风险(如电池爆炸)。
轻微缺陷：外观瑕疵但功能正常，需客户协议接受。
5. 应用领域
消费电子、包装运输、军工设备等。
测试后需出具报告，明确是否符合客户要求或标准等级(如ISTA 3A通过级)。
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