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跌落测试的标准及判定准则

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发表于 2025-3-27 11:44:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
跌落测试标准及判定准则
1. 主要标准
​ISTA 3A:模拟运输环境,根据包装重量确定跌落高度(如<20 kg对应760 mm)。
​ASTM D5276:规定自由跌落测试方法,高度通常为0.3~1.5米,依据包装类型调整。
​GB/T 4857.5:中国国标,按产品重量、运输条件设定跌落高度(如10 kg产品跌落800 mm)。
​MIL-STD-810G(方法516.7)​:**设备测试,跌落高度由产品使用场景决定(如手持设备1.2米)。
2. 测试参数
​跌落高度:根据产品重量、运输方式(陆运/空运)确定。
​跌落次数:通常每个面/角/棱跌落1次。
​跌落角度:优先角(最脆弱位置)、棱、面顺序测试。
3. 判定准则
​包装完整性:无破裂、严重变形,缓冲材料未失效。
​产品功能:开机正常,性能无退化(如屏幕显示、按键响应)。
​外观检查:无结构开裂、电池泄漏等安全隐患。
​内部损伤:通过X光或拆解检查,确认电路板、焊接点无损坏。
4. 失效判定
​严重缺陷:功能丧失、安全风险(如电池爆炸)。
​轻微缺陷:外观瑕疵但功能正常,需客户协议接受。
5. 应用领域
消费电子、包装运输、军工设备等。
测试后需出具报告,明确是否符合客户要求或标准等级(如ISTA 3A通过级)。

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