SEC的RAY相关技术处于行业前沿,本次在展会现场展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品,主要用于半导体,电子产品,封装等产品精密分析用非破坏性检测设备,最大可实现550 x 650mm尺寸的产品不良检测。
该产品搭载高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能检测设备,可实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用户可根据需求选择Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)进行3D影像检测,分析出不良的种类、位置及大小。此外,该产品可搭载Option自动检测S/W,通过手动装料后的自动检测,可实现产品全检;还可搭载长寿命Filament,适用于量产检测。
不断挑战 不断突破
SEC意为“Superior Service & Exciting Challenge”,公司在各个方面为用户提供高质量的服务,并为满足用户的需求而不断进行改进和挑战。随着科技的不断进步和市场的日益扩大,高精密电子工业检测设备的需求也在不断增加。SEC将继续发挥其在研发和生产方面的优势,为全球用户带来更多惊喜和突破。