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原子力显微镜的工作原理

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发表于 2025-1-17 10:33:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
原子力显微镜(AFM)通过一个尖锐的探针与样品表面相互作用,利用探针的位移或振动来获取表面信息。探针通常固定在一个悬臂梁上,当它接近样品时,表面力(如范德华力、静电力等)使探针发生弯曲或偏移。激光反射系统用于测量探针的位移,扫描过程中通过反馈控制保持探针与样品之间的力恒定。AFM可以在接触、非接触或轻敲模式下工作,提供高分辨率的表面形貌图像,并可测量样品的力学、电学等特性。
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    [LV.1]初来乍到

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    助理技师

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    发表于 2025-1-17 11:26:00 | 显示全部楼层
    赞同楼上,这个角度我之前没想到。
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  • TA的每日心情
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    2024-8-6 10:19
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2025-1-17 12:33:13 | 显示全部楼层
    谢谢你的建议,我会尝试的。
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