x射线衍射仪可以测晶体结构吗？

束蕴仪器

X射线衍射仪（XRD）可以测量晶体结构。X射线衍射是研究晶体结构最常用和最有效的方法之一，其基本原理基于布拉格定律（Bragg's Law）：当X射线照射晶体时，会在特定角度发生衍射，通过分析衍射图谱，可以推导出晶体的内部结构信息。
X射线衍射仪如何测量晶体结构？
1、衍射图谱的获取
X射线衍射仪通过发射X射线束照射晶体样品，样品中的原子会散射X射线。当满足布拉格定律（2dsinθ = nλ）时，散射的X射线会在特定角度（衍射角θ）发生相干增强，形成衍射峰。通过探测器记录这些衍射峰的位置和强度，得到衍射图谱。
2、解析晶体结构
晶格参数的确定：通过测量衍射峰的位置（衍射角θ），结合布拉格定律，可以计算出晶体的晶格参数（如晶胞边长a、b、c以及夹角α、β、γ）。
空间群和原子位置的确定：通过分析衍射峰的强度和对称性，结合晶体学理论，可以推断晶体的空间群和原子在晶胞中的位置。
晶体结构模型的构建：通过Rietveld精修等方法，将实验数据与理论模型进行拟合，进一步优化晶体结构模型，确定原子坐标、键长、键角等详细信息。